前言

　　HALT是高加速壽命試驗，又稱為可靠性強化試驗(RET),在產(chǎn)品的設計階段，通過系統(tǒng)地施加逐步增大的環(huán)境應力和工作應力，激發(fā)和暴露產(chǎn)品設計中的薄弱環(huán)節(jié)，找到產(chǎn)品的工作極限和破壞極限，通過對試驗過程中出現(xiàn)的故障進行定位分析和失效進行機理分析，不斷改進設計和工藝，提升產(chǎn)品耐環(huán)境能力和健壯性，提高產(chǎn)品成熟度和可靠性，縮短產(chǎn)品研發(fā)周期和加快產(chǎn)品上市。HALT方法是為了提高產(chǎn)品的可靠性，而并非為了評估產(chǎn)品的可靠性。

　　1. HALT原理

　　每個產(chǎn)品都是獨立的，由于各種因素的影響，即使同一型號產(chǎn)品的強度也是有差異的，其強度表現(xiàn)為某種統(tǒng)計分布。同樣產(chǎn)品其承受的應力也是變化的，應力也表現(xiàn)為某種統(tǒng)計分布。在產(chǎn)品強度與應力重疊的部分(圖中陰影部分)，即對產(chǎn)品施加的應力超過產(chǎn)品的強度，產(chǎn)品就會發(fā)生故障。

　　為了降低產(chǎn)品在使用過程中的失效率，可以通過提高產(chǎn)品的強度，使產(chǎn)品具有充裕的強度余量，進而提升產(chǎn)品現(xiàn)場使用的可靠性，如圖4所示。

　　2. HALT試驗流程

　　3.試驗應力

　　試驗前的準備工作以及五個試驗項目的詳細實施方法在此不做詳細介紹，可參考GB/T 29309-2012 《電工電子產(chǎn)品加速應力試驗規(guī)程高加速壽命試驗導則》進行試驗。

　　HALT試驗對產(chǎn)品施加的應力主要是溫度和振動應力，也可考慮施加濕度等常見環(huán)境應力。除此之外，還要考慮在HALT期間可以向產(chǎn)品施加的所有可能的應力，比如可以考慮通電循環(huán)、電壓變化、頻率變化、電流等可以激發(fā)產(chǎn)品相關設計或工藝問題的應力。

　　4.故障分析

　　(1)當確認發(fā)生故障時，應立即停止試驗，現(xiàn)場人員應詳細記錄故障現(xiàn)象、發(fā)現(xiàn)時機、試驗應力等情況;

　　(2)故障發(fā)生后，注意保護故障現(xiàn)場，進行故障定位。故障定位后應盡量利用試驗現(xiàn)場條件驗證定位的正確性;

　　(3)故障分析清楚并準確定位后，應進行故障機理分析。若確認故障是由元器件引起的，應進行元器件失效分析;

　　根據(jù)故障機理分析結(jié)果和產(chǎn)品實際情況，確定是否對已定位的故障采取糾正措施。決定是否采取糾正措施，主要由費用、時間、風險等因素決定

　　5.回歸驗證

　　當受試產(chǎn)品在HALT后進行了設計和工藝更改，為驗證糾正措施的有效性，應進行回歸驗證試驗?；貧w驗證試驗的目的是為了驗證糾正措施的有效性及其對受試產(chǎn)品的影響，如糾正措施是否有效，或是否消除了之前進行的可靠性強化試驗發(fā)現(xiàn)的缺陷，是否引入了新的問題和缺陷等。在回歸驗證試驗的步進應力試驗中，可根據(jù)情況增加步進步長，以縮短試驗時間，提高試驗效率。