跌落測試 ----

跌落測試通常是主要用來模擬未包裝/包裝的產(chǎn)品在搬運期間可能受到的跌落，檢驗產(chǎn)品抗意外沖擊的能力。通常跌落高度是根據(jù)產(chǎn)品重量以及可能掉落機率做為參考標(biāo)準(zhǔn)，落下表面應(yīng)該是混凝土或鋼制成的平滑、堅硬的剛性表面（如有特殊要求應(yīng)以產(chǎn)品規(guī)格或客戶測試規(guī)范來決定）。

跌落測試根據(jù)檢驗的目的及樣品的類型不同，可以分為自由跌落、定向跌落、微跌落、零跌落。對于不同國際規(guī)范，即使產(chǎn)品在相同重量下但掉落高度也不相同，對于手持型產(chǎn)品(如手機, MP3等)大多數(shù)掉落高度大都介于100cm ~ 150cm不等，IEC對于≦2kg之手持型產(chǎn)品建議應(yīng)滿足100cm之掉落高度不可損壞，MIL則建議掉落高度為122cm，Intel對手持型產(chǎn)品(如手機）則建議落下高度為150cm。試驗的嚴(yán)苛程度取決于跌落高度、跌落次數(shù)、跌落方向。

參考標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 2423.8電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ed:自由跌落

IEC60068-2-32電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ed:自由跌落

GB/T4857.5包裝 運輸包裝件 跌落試驗方法